中国体育彩票标志图:射頻及毫米波應用(RF & mmW

射頻及毫米波應用(RF & mmW )

旺矽釋義

晶圓級射頻及毫米波(RF & mmW)特性描述是射頻及毫米波積體電路開發、設計除錯,以及高效能半導體元件建模的關鍵部分。由於晶圓級?RF?測試儀器(如:向量網路分析儀、升頻器、阻抗調諧器、耦合器、Bias-Ts?及許多其他系統元件)之架設整合具高複雜性及需求特殊性,旺矽特為此應用量測的精準度,投入相當多心力。

量測需求

射頻量測需求主要涵蓋?RF?功率及?RF?雜訊特性描述之大小訊號量測、S?參數、訊號源、負載拉移阻抗匹配等?。這些應用皆挑戰探針臺系統的機械穩定性、最短傳輸路徑、量測最佳方向性、長時間於不同類型金屬待測物上重複且高一致性的點測能力、以及是否可精準校正至待測物端之能力。

旺矽解決方案

旺矽穩固的工程探針臺系統,是您在射頻及毫米波量測應用的最佳選擇。精巧的底座尺寸完全符合?RF?功率及雜訊特性描述系統的整合需求。精密且無後座力的?RF?微定位器MicroPositioners,提供準確定位?RF?探針的能力。

精密設計的?TS150-THZ?探針臺系統搭配高端毫米波?MP80?微定位器(MicroPositioner)、以及兼具高倍率及長工作距離的?MPI SZ10?或?MZ12?光學顯微鏡,盡可能地縮短了毫米波/次毫米波網路分析儀升頻器與待測物之間的距離,除實現最短訊號傳輸路徑,更確保最佳的量測方向性及精準度。

旺矽?TITAN™ 射頻探針系列,採專利的探針葉片設計及微機電製程製造,提供優異可視角、低接觸電阻,甚至在較難探測之鋁材上亦能展現極高的接觸一致性。

領先業界的校正軟體?QAlibria??及經過驗證之校正件Calibration Substrates),實現業界標準及先進的校正方法,提供?RF 計量校正的解決方案。